有问必答：佳能RF卡口与EF卡口大三元镜头有什么区别？

在上周，佳能新发布了RF15-35mm F2.8 L IS USM及RF24-70mm F2.8 L IS USM两支RF卡口新镜头，并且还宣布将在年内RF70-200mm F2.8 L IS USM也会正式发布，届时将真正建起备受广大影友及专业人士期待的、拥有F2.8恒定最大光圈的佳能RF卡口大三元，进一步增强佳能RF卡口镜头的阵容实力。那么同样是佳能、同样是号称镜头“大三元”，RF卡口与EF卡口到底有什么不同？

关于这个问题最根本的区别还是系统的不同，EF卡口为佳能EOS单反相机所使用的卡口，RF卡口则是佳能EOS R微单相机所用卡口。而相对于更新的EOS R系统所使用的RF卡口最主要的特点或者说是优势主要有，短后对焦距离、54mm大口径卡口和新通讯系统等这些关键技术的不同，只有这样才能制造出实现高性能、配备高素质的光学镜头。并且佳能也表示过，RF卡口镜头是开发者基于制造能够提升光学性能、耐久坚固、小型轻量化等优势的“理想镜头“的理念进行开发的。

也正是因为EOS R系统在镜头设计上拥有了更多的可能性，并且佳能完全是基于制造“完美镜头”的理念进行RF卡口镜头的开发，让在原来EF卡口上无法实现的设计目标变成可能。另外全新的RF卡口系统通讯速度提升迅猛，并还可为镜头增加了新的功能，比如多功能控制环，在拥有更便捷的操控性的同时还提供了额外的自定义功能。

回到产品本身，此次佳能RF15-35mm F2.8 L IS USM首先在焦段上突破了EF卡口上16-35mm的范围，实现了广角端焦距的进一步扩展，让广角拍摄有更多创作可能。其次，镜头采用12组16片镜头结构，应用了多达5枚特殊镜片，其中通过3枚玻璃模铸非球面镜片，实现了大光圈镜头的球面像差校正、广角镜头失真像差校正和变焦镜头的小型化，同时还使用了2枚UD（超低色散）镜片，尽管最大广角为15mm，仍可有效抑制色差产生，从而获得高水准的清晰度。

而作为一支经典焦段的常用变焦镜头，佳能RF24-70mm F2.8 L IS USM适用于从街景快照到风景、人像和短片等多种拍摄场景，在延续了佳能L级镜头高画质特点同时，保持了紧凑化设计以及高使用可靠性等优势。RF24-70mm F2.8 L IS USM还通过加入3枚玻璃模铸非球面镜片和3枚UD（超低色散）镜片对多种像差进行大幅度校正，以实现在整个变焦范围内，从画面中心到边缘的高解析力表现。

虽然佳能RF70-200mm F2.8 L IS USM还未正式发布，详细的产品信息也并未揭晓，但是其模型也好还是工程样品也好都展示过不少次，至少在外观方面相比EF卡口的70-200mm F2.8 L IS USM III来说完全又是一次创新。佳能RF 70-200mm F2.8 L IS USM作为大三元中的长焦镜头，它最大的改变是体积，比EF中的70-200mm F2.8略粗一点，但是长度缩减了非常多，这样挂在EOS R或者EOS RP上就不会再头重脚轻了。

总的来说，相对于服役几十年的EF卡口，RF卡口是面向未来更有竞争力的一次改变或者说是进化，由于系统的特殊性，所以可以在RF卡口镜头上有更多以前EF卡口未曾尝试甚至不能实现的新设计，就像新的大三元一样，并且还能将更多新光学技术应该于镜头上，比如BR镜片、SWC亚波长结构镀膜技术等。当然，作为佳能EOS单反的用户来说，EF卡口依然是现在不可替代的选择，但RF卡口以及EOS R系统则是未来。

实验室X射线荧光光谱——XRF对样品的全元素分析案例

X射线荧光光谱分析仪（XFR）是一种精密分析仪器，在20世纪80年代初就已经是一种成熟的分析方法，但仪器价格昂贵。作为一种重要的多元素分析手段，仪器工作分析原理是用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线强度，以进行定性和定量分析。适用于钢铁行业、金属材料、生物化工原料等很多行业中。微源检测分享一则利用X射线荧光光谱分析检测矿石样本的案例。

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将矿石样品用粉碎机磨成粉末，烘烤后准确称取3.0g样品与硼酸在玛瑙研钵充分研磨混匀，完成压片，压片后在干燥无污染的环境中贴签保存，进行无标样全定量分析法分析。检测出样品中含量在10μg•g-1以上的所有金属和非金属元素，得出样品中所含有的6种常量元素。原全元素的检测分析不仅工作量大、耗时长，而且操作繁重，采用XRF法结合分析方法完成了精密度要求，大大简化实验分析过程，并且效果很好。

X射线荧光光谱分析仪检测过程制样简单无需复杂的化学预处理方式，是最基本的制样方法，检测方法快速简便,经济且不会造成其他污染，仪器检测的优势得到了充分的发挥和展现，除了矿石检测，XRF在在土壤和环境样品分析中的应用也愈发重要，还应用于钢铁、冶金、水泥、商检等各个领域，而且还在向更细化的研究领域逐步发展。

X射线荧光光谱可以对块状、粉末类固体样品进行检测，拥有高精度、高灵敏度、无损、多元素同时测定、测试含量范围广、准确性和快速自动化分析等优点，微源实验室可提供X射线荧光光谱的样品全元素分析。实验室遵照ISO17025和GMP进行管理，为企业和科研机构生产研究过程中可能产生的杂质提供成分分析、元素检测、以及方法开发验证等系列解决方法。更多X射线荧光光谱检测欢迎评论区或私信留言！

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